параметрическая тест-система для высокоскоростного производственного контроля полупроводниковых пластин.
| Характеристика | Параметрический тест-система PCM/Die Sort |
|---|---|
| kV-fA за | 1 касание |
| Характеристика | List price: По запросу |
Заполните форму — ответим с актуальной ценой и сроком поставки в течение рабочего дня
